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簡要描述：OmniScan ECA渦流陣列探傷儀以電子方式驅(qū)動同一個探頭中多個相鄰的渦流感應線圈，并解讀來自這些感應線圈的信號。通過使用多路技術采集數(shù)據(jù)， 可避免不同線圈之間的互感。
產(chǎn)品型號：OmniScan ECA廠商性質(zhì)：代理商更新時間：2024-07-06訪 問 量：1225產(chǎn)品分類
Product classification詳細介紹
OmniScan ECA渦流陣列探傷儀
渦流陣列技術
渦流陣列技術（ECA）以電子方式驅(qū)動同一個探頭中多個相鄰的渦流感應線圈，并解讀來自這些感應線圈的信號。通過使用多路技術采集數(shù)據(jù)， 可避免不同線圈之間的互感。
OmniScan® ECA檢測配置在橋式或發(fā)射-接收模式下可支持32個感應線圈（使用外部多路器可支持的感應線圈多達64個）。操作頻率范圍為20 Hz～6 MHz，并能選擇在同一采集中使用多頻。
渦流陣列的優(yōu)勢
同單通道渦流技術相比，渦流陣列技術具有下列優(yōu)勢：
檢測時間大幅度降低。
單次掃查覆蓋更大檢測區(qū)域。
減小了機械和自動掃查系統(tǒng)的復雜性。
提供檢測區(qū)域?qū)崟r圖像，便于數(shù)據(jù)的判讀。
*地適用于對那些具有復雜幾何形狀的部件的檢測。
改進了檢測的可靠性和檢出率（POD）。
渦流陣列探頭
Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應用領域。根據(jù)缺陷的不同類型或者被測工件的形狀，可以設計出不同的探頭。標準探頭可檢測如裂紋、點蝕等缺陷，以及多層結構中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。
OmniScan ECA渦流陣列探傷儀
| 渦流模塊的技術規(guī)格 | |
| 外型尺寸 （寬 x 高 x 厚） | 244毫米 x 182毫米 x 57毫米 （9.6英寸 x 7.1英寸 x 2.1英寸） |
| 重量 | 1.2公斤（2.6磅） |
| 接口 | 1個OmniScan®渦流陣列探頭接口 1個19針Fischer®渦流探頭接口 1個BNC接口 |
| 通道數(shù)量 | 32個通道，帶內(nèi)置多路轉(zhuǎn)換器 |
| 探頭識別 | 自動探頭識別和設置 |
| 發(fā)生器 | |
| 發(fā)生器數(shù)量 | 1個（帶內(nèi)置電子參考） |
| 大電壓 | 12 Vp-p，10 Ω |
| 工作頻率 | 20 Hz～6 MHz |
| 帶寬 | 8 Hz～5 kHz（單線圈中）。同時隙成反比例關系，并通過儀器在多路模式下設定。 |
| 接收器 | |
| 接收器數(shù)量 | 1個～4個 |
| 大輸入信號 | 1 Vp-p |
| 增益 | 28 dB～68 dB |
| 內(nèi)置多路轉(zhuǎn)換器 | |
| 發(fā)生器數(shù)量 | 32個（８個時隙時，4個發(fā)生器同時工作；使用外部多路轉(zhuǎn)換器時，多達64個） |
| 大電壓 | 12 Vp-p，50 Ω |
| 接收器數(shù)量 | 4個差分接收器（每個8時隙） |
| 大輸入信號 | 1 Vp-p |
| 數(shù)據(jù)采集 | |
| 數(shù)字化頻率 | 40 MHz |
| 采集速率 | 1 Hz～15 kHz（單線圈中）。 速率可由儀器處理能力限制，或通過多路激發(fā)模式的延遲設定所限制。 |
| Ａ/D分辨率 | 16比特 |
| 數(shù)據(jù)處理 | |
| 相位旋轉(zhuǎn) | 0°～360°，步距為0.1° |
| 濾波 | FIR低通、FIR高通、FIR帶通、FIR帶阻（截止頻率可調(diào)）、中值濾波器（在2點～200點之間變化）、平均濾波器（在2點～200點之間變化 ） |
| 通道處理 | 混合 |
| 數(shù)據(jù)存儲 | |
| 大文件容量 | 取決于內(nèi)部閃存空間：180 MB（或者300 MB，可選） |
| 數(shù)據(jù)同步 | |
| 按內(nèi)部時鐘 | 1 Hz～15 kHz（單線圈） |
| 外部步速 | 有 |
| 按編碼器 | 單軸或雙軸 |
| 報警器 | |
| 報警器數(shù)量 | 3個 |
| 報警區(qū)域形狀 | 扇形、倒置扇形、框形、倒置框形和環(huán)形 |
| 輸出類型 | 視頻、音頻以及TTL信號 |
| 模擬輸出 | 1個（X或Y） |
主要應用： 緊固件表層裂紋檢測
制造商用型和軍用型航天飛機時，要使用成千上萬個緊固件將搭接的鋁制板材連接在一起。下層鋁板上的疲勞裂紋經(jīng)常會被一層蒙皮隱藏起來。要確保任何航天飛機的完好無損性，在定期的在役檢測過程中，必須探測到這些隱藏的缺陷，并進行修復。
奧林巴斯開發(fā)了一項用于對緊固件和近表層裂紋進行檢測的創(chuàng)新型技術，作為航空航天系列解決方案的一部分。這個方案將渦流技術應用到一個尚未探知的領域。這個新技術可顯示飛機一層鋁制蒙皮下裂紋的極為清晰的圖像，可為用戶有效提供可靠的檢測結果。
可替代磁光成像（MOI）。
32個線圈探頭可覆蓋寬大的范圍。
無需去除漆層；簡化了操作過程，節(jié)省了大量時間。
使用持續(xù)模式，掃描圖像可以不間斷地顯示檢測結果。
數(shù)據(jù)記錄功能有助于制作專業(yè)性報告。
對探頭的放置要求不如滑動式探頭那么嚴格。
經(jīng)過優(yōu)化后，可以探測商用型和軍用型飛機鋁制板材之間的典型近表層裂紋。
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